تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۱ پاسخ تکراری در مدت زمان ۵,۱۹ ثانیه یافت شد.

1. VLSI test pattern generation under massively observable conditions

پدیدآورنده : J. M. Boura

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع : Applied sciences,Electrical engineering,topological search,verification

»
1
«

این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است